Tol, C., & Raj, R. (2020). Bayesian integration of flux tower data into a process-based simulator for quantifying uncertainty in simulated output.
Trích dẫn kiểu ChicagoTol, C.V.D., và R. Raj. Bayesian Integration of Flux Tower Data Into a Process-based Simulator for Quantifying Uncertainty in Simulated Output. 2020.
Trích dẫn MLATol, C.V.D., và R. Raj. Bayesian Integration of Flux Tower Data Into a Process-based Simulator for Quantifying Uncertainty in Simulated Output. 2020.
Cảnh báo! Những trích dẫn này có thể không chính xác 100%.