Tsukanov, K., & Schwartz, N. (2020). Relationship between wheat root properties and its electrical signature using the spectral induced polarization method.
Trích dẫn kiểu ChicagoTsukanov, K., và N. Schwartz. Relationship between Wheat Root Properties and Its Electrical Signature Using the Spectral Induced Polarization Method. 2020.
Trích dẫn MLATsukanov, K., và N. Schwartz. Relationship between Wheat Root Properties and Its Electrical Signature Using the Spectral Induced Polarization Method. 2020.
Cảnh báo! Những trích dẫn này có thể không chính xác 100%.