Đánh giá sự khít sát của inlay toàn sứ lithium disilicate được thực hiện bằng kỹ thuật lấy dấu thường quy và lấy dấu kỹ thuật số
Lưu vào:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Định dạng: | |
| Chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | http://hccplib.vn/tracuutailieuso2xemchitiet.aspx?Id=604 |
| Từ khóa: |
Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!
|