Planning of step-stress accelerated degradation test based on the inverse Gaussian process /Huan Wang, Guan-jun Wang n , Feng-jun Duan

Lưu vào:
Hiển thị chi tiết
Tác giả chính: Wang,Huan
Định dạng: text
Ngôn ngữ:vie
Chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://thuvien.huce.edu.vn/Opac/DmdInfo.aspx?dmd_id=15399
Từ khóa: Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!