Mapping Bug Reports to Relevant Files: A Ranking Model, a Fine-Grained Benchmark, and Feature Evaluation /Xin Ye, Student Member, IEEE, Razvan Bunescu, and Chang Liu, Senior Member, IEEE

Lưu vào:
Hiển thị chi tiết
Tác giả chính: Ye,Xin
Định dạng: text
Ngôn ngữ:vie
Chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://thuvien.huce.edu.vn/Opac/DmdInfo.aspx?dmd_id=17133
Từ khóa: Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!