Yield-stress based error indicator for adaptive quasi-static yield design of structures /Canh V. Le
Lưu vào:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Định dạng: | text |
| Ngôn ngữ: | vie |
| Truy cập trực tuyến: | https://thuvien.huce.edu.vn/Opac/DmdInfo.aspx?dmd_id=18886 |
| Từ khóa: |
Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!
|
Hãy là người đầu tiên bình luận!