Recombination lifetime measurements in silicon /Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, and William M. Hughes, editors.
Includes bibliographical references and indexes.
Lưu vào:
Tác giả chính: | Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R.,1955-, Hughes, William M.,1948- |
---|---|
Đồng tác giả: | Bacher, Fred R., |
Định dạng: | text |
Ngôn ngữ: | eng |
Thông tin xuất bản: |
ASTM,
|
Chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://thuvien.huce.edu.vn/kiposdata1/anhbia/sachngoaivan/a_thuy/19-04/01/anoidung_01thumbimage.jpg https://thuvien.huce.edu.vn/Opac/DmdInfo.aspx?dmd_id=45995 |
Từ khóa: |
Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!
|
Tài liệu tương tự
-
Gate dielectric integrity / Dinesh C. Gupta, George A. Brown editor
Thông tin tác giả:: Dinesh G.Editor, và những người khác -
Emerging semiconductor technology : A symposium on electronics / Dinesh C. Gupta, Paul H. Langer editors
Thông tin tác giả:: Dinesh C.Editor, và những người khác -
The connected consumer / Dinesh Kumar
Thông tin tác giả:: Kumar, Dinesh -
Principles of computer systems and network management / Dinesh C. Verma.
Thông tin tác giả:: Verma, Dinesh C. -
Understanding patient safety / Kiran Gupta; Robert M Wachter
Thông tin tác giả:: Wachter, Robert M., và những người khác