Fundamentals of electromigration-aware integrated circuit design /Jens Lienig, Matthias Thiele.
Includes bibliographical references and index.
Lưu vào:
Tác giả chính: | Lienig, Jens,author., Thiele, Matthias(Engineer),author. |
---|---|
Đồng tác giả: | Thiele, Matthias author. |
Định dạng: | text |
Ngôn ngữ: | eng |
Thông tin xuất bản: |
Springer,
|
Chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://elib.ntt.edu.vn/Opac/DmdInfo.aspx?dmd_id=15623 |
Từ khóa: |
Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!
|
Tài liệu tương tự
-
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Thông tin tác giả:: Lienig, Jens, và những người khác
Thông tin xuất bản: (2020) -
Electromigration in ULSI interconnections / Cher Ming Tan; World Scientific
Thông tin tác giả:: Tan, Cher Ming, và những người khác -
Electromigration in ULSI Interconnections / Cher Ming Tan
Thông tin tác giả:: Tan, Cher Ming -
Microelectronic circuit design /Richard C. Jaeger, Travis N. Blalock.
Thông tin tác giả:: Jaeger, Richard C., và những người khác -
Microelectronic circuit design /Richard C. Jaeger, Auburn University, Travis N. Blalock, University of Virginia.
Thông tin tác giả:: Jaeger, Richard C., và những người khác