Yield-stress based error indicator for adaptive quasi-static yield design of structures /Canh V. Le
Lưu vào:
Tác giả chính: | Le,Canh V. |
---|---|
Định dạng: | text |
Ngôn ngữ: | vie |
Truy cập trực tuyến: | https://thuvien.huce.edu.vn/Opac/DmdInfo.aspx?dmd_id=18886 |
Từ khóa: |
Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!
|
Tài liệu tương tự
-
Use of creep recovery protocol to measure static yield stress and
structural rebuilding of fresh cement pastes / Ye Qian, Shiho Kawashima
Thông tin tác giả:: Qian, Ye, và những người khác -
YIELD STRESS OF CEMENTITIOUS MATERIALS UNDER DIFFERENT SQUEEZING RATES
Thông tin tác giả:: Nguyễn, Đình Duy, và những người khác
Thông tin xuất bản: (2023) -
Assessing the information in crop model and meteorological indicators to forecast crop yield over Europe
Thông tin tác giả:: Ceglar, A., và những người khác
Thông tin xuất bản: (2020) -
Quasi-Static Cyclic Testing of Elevated RC Pile-Cap
Foundation for Bridge Structures
Thông tin tác giả:: Wang,Xiaowei -
Predicting the apparent viscosity and yield stress of digested and
secondary sludge mixtures
Thông tin tác giả:: Eshtiaghi,Nicky