Relationship between wheat root properties and its electrical signature using the spectral induced polarization method
Measuring root properties, the “hidden half” of the plant, is challenging due to their heterogeneous and dynamic nature. A promising method for noninvasive mapping of roots and their activity, spectral induced polarization (SIP), has been introduced. However, measurements of root properties together...
Lưu vào:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Đồng tác giả: | |
| Định dạng: | BB |
| Ngôn ngữ: | English |
| Thông tin xuất bản: |
2020
|
| Chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | http://tailieuso.tlu.edu.vn/handle/DHTL/9921 |
| Từ khóa: |
Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!
|
Hãy là người đầu tiên bình luận!